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无光束分离的干涉成像技术

发布:HPLlaser    |    2019-03-01 11:22    阅读:297
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干涉仪用以测量微小位移,折射率变化和表面不规则性,被广泛用于科学研究和工业领域中。 在所有干涉仪中,包括相差显微镜和差分干涉对比显微镜(DIC),来自单个光源的光被分成两束沿不同光路传播的光束,然后将它们重新组合以产生干涉。光束分离的基本操作使得设备配置更加复杂并?#20197;?#21152;了大?#31185;?#20182;设备。本文提出了通过在观察平面上设置光栅耦合器,在其结构内部使用自干涉,从而实现一种观察没有光束分离的相位衬比图像的新方法。本文通过实验证明,自干涉原理可以使用简单的装置生成相位衬比图像。通过使用多级相位板的测量,本文确认其相衬深度分辨率能够接近波长的十分之一。

算术处理前后的图像。

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